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睿励300mm硅片光学测量设备TFX3000样机出厂
点击:2132  时间:2011-05-17 16:25:51  [ 打印 关闭 ]
2011年5月17日,睿励自主研发的300mm硅片光学膜厚测量设备样机装箱出厂,送生产线试用。


睿励技术团队在已装箱待发送的TFX3000 Beta样机前合影